Baza aparatury


Aparatura: Tracker C-Track 780 z głowicą stykową HandyProbe i z głowicą laserową MetraSCAN 210 firmy Creaform
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Objętość pomiarowa 7,8 m3
Dokładość:  0,085 mm

Aparatura: WZORZEC PŁYTOWO-KULOWY PETTER B400
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:

Aparatura: WSPÓŁRZĘDNOŚCIOWA MASZYNA POMIAROWA MICROEXEL 765 PFx
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Zakres pomiarowy: 700 x 600 x 500 mm; Głowica – PH 20; MPEE = 3+4L/1000 µm

Aparatura: PRZYRZĄD DO POMIARU STRUKTURY GEOMETRYCZNEJ POWIERZCHNI MarSurf XR 20 z możliwością pomiaru topografii powierchni
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Zakres pomiarowy +-250 µm, Mierzone parametry m.in..  Ra, Rz, Rt i inne.

Aparatura: MULTISENSOROWA MASZYNA POMIAROWA WERTH SCOPE CHECK
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Zakres pomiarowy:
X = 300 mm
Y = 200 mm
Z = 200 mm
MPE dla standardowych warunków środowiskowych -

a) Z zastosowaniem sensora optycznego:
E1xy: (1,5+L/200) μm
E2xy: (1,9+L/150) μm
E3: (2,9+L/100) μm
b) Z zastosowaniem sondy stykowej
E3: (2,4+L/150) μm

Aparatura: INTERFEROMETR LASEROWY HPI – 3D/W
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Distance 0 – 30 m (50 m)
Velocity 0 – 7 m/s
Flatness axial 0 – 15 m
flatness range - ± 3 mm
Straightness
measurement
(with wollastone
prism) 0,3 – 9 m
Squareness
(Wollastone prism)
± 1000 arcsec
Vibrations 0-100 kHz

Aparatura: RAMIĘ POMIAROWE CIMCORE INFINITE
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Zakres pomiarowy 1,8 m; Głowica stykowa; MPEE=24 µm

Aparatura: RAMIE POMIAROWE KREON BACES Z GŁOWICĄ SKANUJĄCA SOLANO
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
Zakres pomiarowy 1,2 m Dokładność dla pomiarów stykowych: 44 μm

Aparatura: BEZDOTYKOWY PRZYRZĄD DO POMIARU TOPOGRAFII POWIERZCHNI MarSurf WS 1 Bezdotykowy przyrząd do pomiaru chropowatości z powierzchni z czujnikiem światła białego
Jednostka:       Laboratorium Metrologii
Opiekun: dr hab. inż. Wojciech Płowucha
Parametry techniczne:
pow. 10x - 1.6 mm × 1.2 mm (.063 in × .047 in); pow. 20x - 0.8 mm × 0.6 mm (.031 in × .024 in)

Aparatura: STANOWISKO BADAWCZO-DYDAKTYCZNE: DYLATOMETR AUTOMATYCZNY DA-2
Jednostka:       Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji
Opiekun: dr hab. inż Jacek Pezda
Parametry techniczne:
Zakres temperatur pracy: 80 ÷ 1020°C,
Maksymalna szybkość: nagrzewania 5K/s, chłodzenia 5K/s (chłodzenie powietrzem),
Dokładność pomiaru temperatury +/- 2°C, rozdzielczość pomiaru 0,1°C,
Dokładność pomiaru wydłużenia 5μm, rozdzielczość pomiaru 0,2 μm.
Maksymalny czas pomiaru: nieograniczony,
Sterowanie nagrzewania i chłodzenia: automatyczne w technologii “Fuzzy Logic”
Możliwość pomiaru w osłonie gazu obojętnego,
Wymiary próbki: średnica 7mm x 35÷ 40mm,

Czy wiesz że ...

©2021 Wszystkie prawa zastrzeżone. Realizacja: OPTeam S.A.

fundusze.webp

polska.webp

ue.webp